Preparasi dan Karakterisasi Permukaan Elektroda Berlapis Titanium Dioksida Nanopartikel Menggunakan Atomic Force Microscopy

Abstrak

Telah dilakukan penelitian tentang preparasi dan karakterisasi permukaan elektrodaberlapis nanopartikel titanium dioksida (TiO2) dengan menggunakan Atomic ForceMicroscopy (AFM). Lapis tipis nanopartikel TiO2 telah dipreparasi dengan menerapkanmetode Sol-Gel Dip-Coating menggunakan titanium tetraisopropoksida (TTIP). Hasilkarakterisasi AFM menunjukkan roughness 1,596nm dan ukuran partikel 9,8 nm. Hasil yangdiperoleh cocok secara praktis untuk penggunaan sebagai elektroda dalam sistemfotoelektrokatalitik.